誘電正接

誘電正接（ｔａｎδ）とは、誘電体内部での電磁エネルギーの散逸による損失の尺度で、タンデルなどとも呼ばれます。誘電正接は、複素誘電率の実数部に対する虚数部の比として定義され、ｔａｎδ=ε”ｒ／εｒとして表されます。一般的なＦＲ－４基板の誘電正接は、０．０２（＠１ＧＨｚ）程度となります。プリント基板上の伝送線路の損失としては、銅箔が持つ抵抗分による導体損失以外にも基材（誘電体）に交流電場を加えた時にそのエネルギーの一部が誘電体内部で熱となって失われる現象に伴う誘電損失があります。誘電損失は、基材の誘電率の平方根、誘電正接、信号周波数に比例します。